İleri Görüntüleme Labouratuvarı

NANO BOYUTLARDA YÜKSEK ÇÖZÜNÜRLÜK

En ileri seviye taramalı elektron mikroskobu (SEM) ve Odaklanmış İyon Demeti (FIB) tekniklerini, dedektörler ve manipilatör ile kombine etmektedir. Araştırma merkezlerinde yalıtkan, yarı- iletken ve iletken numuneler için eşsiz SEM çözünürlüğü (1 nm) ile malzemelerin 2D ve 3D karakterizasyonunda ve EDXS sistemi ile elementel analiz için kullanılabilmektedir.