Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM)

media

Hitachi 5100N Cihazı yüzey topoğrafyası ve 3 boyutlu görüntüsünü alabilen bir cihazdır. Atomik boyutlara kadar sivriltilmiş bir tip yardımıyla, yüzeyin yüksek çözünürlükte, üç boyutlu görüntülenmesini sağlar. Görüntüleme, tipin yüzey ile etkileşiminin incelenmesi sonucunda gerçekleştirilir. Değişik amaçlar için farklı tipler kullanılır. Atomik kuvvet mikroskopu farklı tekniklerle kullanabilmektedir. Bunlar; tipin yüzeye temas ettirilerek uygulandığı temas yöntemi, ve iğnenin yüzeye vurularak uygulandığı tapping modudur. Örnek yüzeylerinin görüntülenmesi yanı sıra faz, elektrik iletkenlik ve manyetik farklılıklar da saptanabilmektedir.

Cihaz Özellikleri Kullanım Kılavuzu
1 • Yüzey topoğrafyasını ve 3 boyutlu görüntüsünü atomik seviyeden başlayarak mikron mertebesine kadar kantitatif olarak ölçebilmektedir.
2 • Yüksek çözünürlükte topografik bilgi alınabilmektedir
3 • Yüzeyin mekanik, elektriksel ve manyetik özellikleri ile ilgili kantitatif ölçümler 3 boyutlu haritalama yapılabilmektedir.
4 • Cihazın EFM,MFM, Liquid AFM, Adhession Force ,Kelvin Probe Force Microscopy ,Conductive AFM ve STM modları bulunmaktadır.
DAYTAM © 2015 TÜM HAKKI SAKLIDIR. ATABAUM TARAFINDAN GELİŞTİRİLMİŞTİR.