Prob İstasyonu

media

Kriyojenik Prob İstasyonu Sistemi ile düşük vakum ortamında ölçüm ucu istasyonun hem altlığı hem de kalkanı istenilen sıcaklığa ayarlanarak akım-voltaj ve kapasitans-voltaj gibi elektriksel ölçümler yapılabilmektedir. Bu I-V ve C-V karakteristiği kullanılarak bir çok yarıiletken tabanlı aygıt için önemli parametreler elde edilebilir.

Cihaz Özellikleri
DAYTAM © 2015 TÜM HAKKI SAKLIDIR. ATABAUM TARAFINDAN GELİŞTİRİLMİŞTİR.