X-Işını Kırımı (XRD)

PANalytical Empyrean XRD

X-Işını Kırınım cihazıyla, organik ve inorganik malzemelerin, minerallerin, kristal ve amorf malzemelerin, ince filmlerin ve polimerlerin nitel ve nicel incelemeleri yapılabilir. Ayrıca ince film ve kaplamalarda, tabaka kalınlığı, stres ölçümleri yapılabilmektedir.

Genel Bilgiler

Doğada maddelerin çoğu bileşik halinde ve %95 yakını kristal yapıda bulunur. XRD sisteminde, hızlandırılmış elektron demetinin bakır levhaya çarptırılması ile elde edilen karakteristik X- ışını demeti, toz, ince film, nanomalzeme ya da katı numuneler üzerine gönderilerek yansıyan veya kırınıma uğrayan ışınlar dedektör yardımı ile kaydedilip, kristal yapıya özgü oluşan kırınım deseni incelenerek yapısal ve kimyasal özellikleri belirlenebilmektedir.

Doğal ve yapay minerallerin tanımlanmasında, seramik ve çimento endüstrisinde, toprak ve maden, böbrek ve safra taşı, organik ve inorganik malzemeler, polimerler, metal, alaşım, çelik, süperiletken, yarıiletken ve kaplama malzemeleri analizlerinde, ince film kompozisyonu tayininde, kristal veya amorf kompleks bileşiklerin incelenmesinde, ilaç endüstrisinde belli bir malzeme içindeki polimorfların ve safsızlıkların tespitinde, arkeolojide tarihi yapıları oluşturan malzemelerin tayininde kullanılan XRD yöntemi, oldukça geniş bir uygulama alanına sahiptir.

Örgü Parametreleri

X-ışınları ölçümleri ile malzemedeki kristal yapıya zarar vermeksizin malzemedeki fazlar, fazların miktarı, kristal boyutu, örgü parametreleri, yapıdaki değişimler, kristal yönlenmesi ve atom pozisyonları hakkında bilgi alınabilmektedir.

0.5° Grazing Açısı

XRD sisteminde ile Grazing açısı (0,5°-3°) ölçümleri ince film, kaplamalar ve tabakalı yapıların analizi yapılabilmektedir.

İnce Film Kalınığı

XRD sisteminde yansıma ölçümleri ile ince film kalınlığı belirlenebilmelidir.

Stres Analizi

Tekstür ve stres analizleri ile Rietveld (yapı çözümleme) analizleri yapılabilmektedir.

3 Eksenli Beşik: Chi, Phi, Z

Çok amaçlı X- Ray Difraktometresinde 3 farklı örnek tablası kullanılmaktadır. Çok amaçlı numune örnek tablası, yansıma iletimli döner tablası ve eğilim özellikli tabla

xrd-brosur