Atomik Kuvvet Mikroskopu (AFM)

Hitachi 5100N

Genel Bilgiler

AFM (Atomik Kuvvet Mikroskopisi) yüzey topoğrafyası ve 3 boyutlu görüntüsünü alabilen bir cihazdır. Atomik boyutlara kadar sivriltilmiş bir tip yardımıyla, yüzeyin yüksek çözünürlükte, üç boyutlu görüntülenmesini sağlar. Görüntüleme, tipin yüzey ile etkileşiminin incelenmesi sonucunda gerçekleştirilir. Değişik amaçlar için farklı tipler kullanılır.

Atomik kuvvet mikroskopu farklı tekniklerle kullanabilmektedir. Bunlar; tipin yüzeye temas ettirilerek uygulandığı temas yöntemi, ve iğnenin yüzeye vurularak uygulandığı tapping modudur. Örnek yüzeylerinin görüntülenmesi yanı sıra faz, elektrik iletkenlik ve manyetik farklılıklar da saptanabilmektedir.

3D Görüntüleme

Yüzey topoğrafyasını ve 3 boyutlu görüntüsünü atomik seviyeden başlayarak mikron mertebesine kadar kantitatif olarak ölçebilmektedir.

3D Haritalama

Yüzeyin mekanik, elektriksel ve manyetik özellikleri ile ilgili kantitatif ölçümler 3 boyutlu haritalama yapılabilmektedir.

Çoklu Mod

Farklı modlarda ölçümler gerçekleştirilebilmektedir;
- Conductive AFM,
- Taramalı Tünelleme Mikroskobu (STM),
- Manyetik Güç Mikroskobu (MFM),
- Kelvin Probe Force Mikroskobu,
- Elektrostatik Kuvvet Mikroskobu (EFM)
modları bulunmaktadır.