Temas Açısı Ölçümü (ATM)

Attension Theta Flex, aşağıdakilerin uygun ve kesin çalışmaları için kullanılabilir:

• Islatımlılık
• Yapışma
• Homojenlik
• Yüzey pürüzlülüğü
• Yayma
• Temizlik
• Baskılanabilirlik
• Adsorpsiyon
• Emülsiyon ve köpük stabilitesi

3D Topografya

Islatma ve yapışma özelliklerini optimize etmek için kullanılan birçok yüzey modifikasyonu ve kaplama teknolojisi, hem yüzey kimyasını hem de pürüzlülüğü etkiler. Bu iki faktörü ayırarak ıslatmayı etkileyen mekanizmaları anlamak, ürün geliştirme süreçlerinde ve kalite kontrolünde yararlı bir araç olabilir. Temas açılarında pürüzlülük düzeltmesi ayrıca pürüzlü yüzeylerde temel yüzey serbest enerjisinin hesaplanmasını sağlar. Theta Topography, birçok uygulama ve işlemle ilgili olan mikro ölçekli pürüzlülüğü incelemek için kullanılabilir. Örnekler şunları içerir:

• Kaplamalar ve yüzey modifikasyonları
• Kağıt ve karton ıslanabilirliği
• İmplantların biyouyumluluğu
• İnşaat ve yapı malzemesi

Geri Sapılım Ölçümü

Nano ZS Cihazları Saçılan Işığı 173° ’Lik Bir Açıyla Ölçerler. Bu Backscatter Detection Olarak Adlandırılır. Toz Partikülleri Gibi Kirlilikler Işığın Ileri Yönde Saçılmasına Neden Olurlar. Geri Saçılan Işınların Ölçümüyle Toz Benzeri Kirliliğin Ölçümlere Olan Etkisi Giderilir.

• Sessile düşme, tutulmuş kabarcık ve menisküs yöntemleri ile statik temas açısı
• Eğik düşme ve sapsız düşme yöntemleri ile dinamik temas açısı
• Sessile düşme, tutulmuş kabarcık ve menisküs yöntemleri ile Serbest yüzey enerji
• Sarkıt düşme ve ters düşey düşme yöntemleri ile yüzey ve arayüzey gerilimi
• Pürüzlülük düzeltilmiş temas açısı ve Fringe projeksiyon fazı kaydırma yöntemi ile 3D yüzey pürüzlülüğü
• Titreşen damla yöntemiyle arayüzey dilatasyonu reolojisi