X-Işını Kırınım cihazıyla, organik ve inorganik malzemelerin, minerallerin, kristal ve amorf malzemelerin, ince filmlerin ve polimerlerin nitel ve nicel incelemeleri yapılabilir. Ayrıca ince film ve kaplamalarda, tabaka kalınlığı, stres ölçümleri yapılabilmektedir.
Doğada maddelerin çoğu bileşik halinde ve %95 yakını kristal yapıda bulunur. XRD sisteminde, hızlandırılmış elektron demetinin bakır levhaya çarptırılması ile elde edilen karakteristik X- ışını demeti, toz, ince film, nanomalzeme ya da katı numuneler üzerine gönderilerek yansıyan veya kırınıma uğrayan ışınlar dedektör yardımı ile kaydedilip, kristal yapıya özgü oluşan kırınım deseni incelenerek yapısal ve kimyasal özellikleri belirlenebilmektedir.
Doğal ve yapay minerallerin tanımlanmasında, seramik ve çimento endüstrisinde, toprak ve maden, böbrek ve safra taşı, organik ve inorganik malzemeler, polimerler, metal, alaşım, çelik, süperiletken, yarıiletken ve kaplama malzemeleri analizlerinde, ince film kompozisyonu tayininde, kristal veya amorf kompleks bileşiklerin incelenmesinde, ilaç endüstrisinde belli bir malzeme içindeki polimorfların ve safsızlıkların tespitinde, arkeolojide tarihi yapıları oluşturan malzemelerin tayininde kullanılan XRD yöntemi, oldukça geniş bir uygulama alanına sahiptir.
X-ışınları ölçümleri ile malzemedeki kristal yapıya zarar vermeksizin malzemedeki fazlar, fazların miktarı, kristal boyutu, örgü parametreleri, yapıdaki değişimler, kristal yönlenmesi ve atom pozisyonları hakkında bilgi alınabilmektedir.
XRD sisteminde ile Grazing açısı (0,5°-3°) ölçümleri ince film, kaplamalar ve tabakalı yapıların analizi yapılabilmektedir.
XRD sisteminde yansıma ölçümleri ile ince film kalınlığı belirlenebilmelidir.
Tekstür ve stres analizleri ile Rietveld (yapı çözümleme) analizleri yapılabilmektedir.
Çok amaçlı X- Ray Difraktometresinde 3 farklı örnek tablası kullanılmaktadır. Çok amaçlı numune örnek tablası, yansıma iletimli döner tablası ve eğilim özellikli tabla.
X-ray generator
4 kW (max 60 kV, max 100 mA)
Line/point focus switch
Araç kullanmaksızın tak-kullan
Maximum usable range (depending on accessories)
-111 < 2teta < 168°
(Bağlı aksesuara göre değişiklik gösterebilir)
Smallest addressable increment
0.0001°
Angular reproducibility
< 0.0002°
2 theta linearity over whole range
Equal or better than +/- 0.01°
Angular resolution (FWHM on LaB6)
0.026°
